简介： 本发明提供一种LED光源结温的无损实时测量方法，其包括如下步骤：S1、对待检测的LED光源进行通电，将LED光源通电后发出的光束经光学元件后形成的光学成像投影到屏上；S2、建立LED光源中各LED芯片与光学成像之间的位置对应关系；S3、根据建立的对应关系，分别采集光学成像中各个位置的光束，对光束中LED芯片发出的光进行光谱分析，获得包括对应位置的各LED芯片的光频峰值、宽度信息；S4、建立光谱‑温度关系的标准曲线，结合标准曲线和获得的光谱，确定LED光源中各LED芯片的结温温度。本发明能够实时无损地对每个LED芯片的结温进行测量，并根据测量结果对LED光源的质量、使用寿命作出评价。