简介： 本实用新型涉及LED光源无损测量技术领域，具体地说，涉及LED光源无损实时芯片可辩测量装置，包括测量箱，测量箱左侧面中心位置开设有卡槽，测量箱左端处的两侧边上均开设有与卡槽连通的第一螺纹孔，第一螺纹孔中均设有拧把，拧把末端设有夹板，测量箱右端面上安装有显示台，梯型滑槽上方设有滑动台，滑动台顶部设有检测台，第二螺纹孔中设有螺纹杆，测量箱上方铰接有翻盖；该LED光源无损实时芯片可辩测量装置，测量箱在翻盖的配合下，便于对内部的进行保护，拧把与夹板的配合，便于紧密夹持不同大小的LED光源芯片，滑动台与检测台的配合，便于对LED光源芯片的光照强度与温度进行对应的测量，在配合显示台，实时对测量的结果进行记录显示。