简介： 一种超声信号频谱滤波技术无损测量涂层厚度的方法，属于超声无损检测技术领域。该方法将超声入射声压P入(x0)对反射声压P反(x1)做归一化处理，得到涂层的归一化声压反射系数R(x1-x0)，采用频谱分析技术将R(x1-x0)展开为复数形式的傅立叶级数，并分离为独立的实部函数Real(f)与虚部函数Imag(f)。对加窗处理得到的有效频带内实部函数Vreal(f)做傅里叶变换得到其功率谱M(τ)，依据功率谱各个极大值出现位置选择FFT滤波带宽，依次对Vreal(f)进行滤波得到一系列余弦函数，读取余弦函数的周期并计算出超声波在各涂层中的传播声时ti，进而结合涂层纵波声速实现涂层厚度的表征。该方法不受材料属性、工艺环境的影响，克服了常规超声法时域发生混叠、频谱谐振频率难以辨识的问题，解决了多层涂层超声测厚的难题。