简介： 本发明公开一种面向纳米观测与操作的样品无损逼近方法。它通过控制样品相对于探针进行微米级的初调运动及纳米级的精密运动,经检测反射激光光斑的位置变化信号的反馈控制步骤,通过检测样品逼近探针产生原子力作用时产生的光电检测信息进行反馈控制,达到控制样品无损逼近探针的目的。采用本发明可以避免碰撞逼近所造成的探针或样品损伤。