简介： 一种银或金纳米粒子膜拉曼芯片定标无损质检方法与设备，所述拉曼芯片在紫外可见平行光束中检测消光(Extinction)吸收光谱SPR主峰高度HSPR，采用HSPR～HRs定标方法，用定标样品的拉曼光谱中定标峰的高度HRS间接表征所述拉曼芯片的灵敏度质量；HSPR～HRS定标曲线，需检测至少5种不同灵敏度的HSPR值之后，相继检测定标样品如R6g‑10‑6M/L的拉曼光谱中的定标峰高HRS，创建HSPR～HRS定标曲线，根据所述拉曼芯片质检达标规范制定质控限，实施所述拉曼芯片定标无损质检。无损质检过程中，为防止拉曼芯片在空气中氧化损伤，需设置在硝酸银溶液环境中完成，或真空环境中、或惰性气体中完成。