简介： 本发明涉及零件、机器部件和机械装置、各种材料的无损检验方法和设备,具体涉及基于光学全息干涉技术无损测定残余应力的方法和设备。首先,记录初始状态下物体检测区域的全息图。然后,通过将物体表面暴露在矩形高电流脉冲下,实现检测区域的检测点中的残余应力释放。最后,制作物体的严格相同区域中的干涉图。由干涉图中的条纹形状及尺寸确定检测区域的残余应力。