简介:
本发明涉及无损检验金属管(T)的设施,其中超声波传感器(3)包含可在选择的时间分别激发的换能器元件(Ci)。处理检测信号的下游电路(2,4,5)分析超声波激发时管子的整体响应(7)。本发明的特征在于只激发换能器元件产生单一发射,下游电路恢复(4)均通过换能器元件(Ci)检测的信号的样本(Sij),与之相关联(5)各连贯时间(tj)的偏移,以便通过修改所述连续时间之间的偏移,计算单一发射时,管子的数个整体响应。
本发明涉及无损检验金属管(T)的设施,其中超声波
传感器(3)包含可在选择的时间分别激发的换能器元件(Ci)。处理检测信号的下游电路(2,4,5)分析超声波激发时管子的整体响应(7)。本发明的特征在于只激发换能器元件产生单一发射,下游电路恢复(4)均通过换能器元件(Ci)检测的信号的样本(Sij),与之相关联(5)各连贯时间(tj)的偏移,以便通过修改所述连续时间之间的偏移,计算单一发射时,管子的数个整体响应。