ui为衰减系数,li为X射线穿过物体的长度。原有技术只能仿真单能X射线的正投数据,与设备上实际采集的结果差距较大。本发明可以仿真多能X射线的正投数据,得到的结果更接近设备采集的结果,为科研和研究算法提供有力的工具。">
标题:基于能谱的3D打印无损检测方法