简介： 本发明提出一种基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法，包括以下步骤：步骤S1：获取西瓜的可见/近红外光谱；步骤S2：对步骤S1获取的光谱提取峰值peak₁和峰值peak₂；步骤S3：计算RPP值和/或NDIP值：RPP=peak₁/peak₂；NDIP=（peak₁+peak₂）/（peak₁‑peak₂）；步骤S4：对多个西瓜样本执行步骤S1‑步骤S3，对计算获得的RPP值和/或NDIP值的数据集进行训练，通过遗传算法获得RPP和/或NPID的边界校正因子C_RPP和/或C_NDIP。该方法能够有效分辨成熟的西瓜、减少未成熟西瓜的采摘，实现经济利益的最大化。