简介： 本发明提供了一种无损检测模拟试块的制备方法及模拟试块，方法包括：热压步骤：将一个试块的待连接表面与另一试块的待连接表面设置为彼此接触，在0.5～0.8T的温度和预定压力下对两个试块进行热压，并设定保温时间为40～100min，其中T为试块的熔点；一个试块的待连接表面与另一试块的待连接表面中的至少一者形成有模拟缺陷；预定压力与温度和保温时间相适配。本发明提供的方法可通过制备工艺参数的控制(温度、保温时间和压力)可以较好的控制试块及试块内部的变形，避免了现有技术中试块及内部缺陷的变形而导致模拟试块的质量降低的情况出现。