简介:
本发明公开了一种基于高光谱空间散射曲线的苹果硬度无损检测方法,包括步骤:样本的选取;高光谱数据的采集;硬度的标准值的测定;对高光谱数据的处理;硬度预测模型的建立和评价。本发明的技术方案通过获取携带苹果内部组织(与苹果的硬度直接相关)信息的高光谱空间散射曲线得到空间散射曲线的拟合参数,利用该参数建立硬度预测模型,从而能够利用该模型实现对苹果硬度的检测。
本发明公开了一种基于高光谱空间散射曲线的苹果硬度无损检测方法,包括步骤:样本的选取;高光谱数据的采集;硬度的标准值的测定;对高光谱数据的处理;硬度预测模型的建立和评价。本发明的技术方案通过获取携带苹果内部组织(与苹果的硬度直接相关)信息的高光谱空间散射曲线得到空间散射曲线的拟合参数,利用该参数建立硬度预测模型,从而能够利用该模型实现对苹果硬度的检测。