简介： 本发明是一种基于超声平面波成像和时间反转算子相结合的高分辨缺陷无损检测方法。本发明通过超声线性相控阵向被测工件发射一组平面波，利用超声相控阵采集各个平面波的反射回波数据，对回波数据进行时域滤波，滤除信号中的随机噪声；通过边缘提取方法取出扫描图像中各个缺陷的边缘信息，作为被测工件内部缺陷的基本信息，基本信息包括缺陷的位置信息、形状信息和大小范围信息；利用时间反转算子的特征向量对缺陷信号进行自动聚焦，在得到的各块缺陷区域进行精确成像，对整个被测工件缺陷的进行精确定位。