简介： 本发明公开了一种基于高光谱的叶片无损检测装置，包括光源、物镜或者透镜、位移台、滤波片，聚焦透镜、成像光谱仪,待测样品放置在所述的位移台上，光源发出的光依次通过物镜或者透镜、位移台、待测样品,待测样品辐射的光通过滤波片，聚焦透镜进入成像光谱仪中。本发明利用光源照明样品，利用位移平台实现对样品的扫描，成像光谱仪采集样品辐射的光谱信号，可以快速地得到样品的光谱和空间位置信息。本发明采用了主动照明的方式，系统的信噪比较高，可以用来实现物体的定量检测。