简介： 本发明公开了一种高分子材料内部缺陷无损检测装置，包括通过连接线依次顺序连接的函数信号发生器、功率放大器和激振器，待测工件通过弹性绳索悬挂于支架上，待测工件下底面与激振器触发端相接触；多个加速度传感器沿圆周均布粘贴于待测工件表面，加速度传感器通过连接线与电荷放大器连接，电荷放大器通过连接线与数字信号处理装置连接。本发明提供了一种在不破坏物料的前提下，对高分子材料内部结构进行检测的装置，通过激振器对高分子材料产生的迫振，通过振型分析装置可准确获得缺陷类型和发生位置。