简介： 本发明涉及一种识别异形制件变截面区域缺陷的超声无损检测方法，包括：将超声换能器沿制件轴向放置于制件检测面，并与制件检测面贴合，其中所述超声换能器由平行于制件轴向间隔预定距离串行排布的2n个晶片组成，n为≥3的整数，其中制件变截面区域被所述2n个晶片中的至少一些晶片完全覆盖；沿制件轴向进行扫查，通过脉冲信号激发晶片产生超声波，所有2n个晶片同时接收反射声信号并转换为电信号，计算整合电信号并进行成像，根据成像结果确定变截面区域缺陷的特征。本发明的可以准确且快速的识别变截面过渡区缺陷，避免了声束折射带来的干扰。