简介： 本发明公开了一种利用金属内耗的无损检测方法，包括以下步骤，取得金属试样并将其安装到振幅内耗仪上；振幅内耗仪进行大应变内耗测试，调节振幅得到对应的振幅‑内耗曲线，该振幅‑内耗曲线具有一个拐点；改变金属试样的温度，重复上述步骤，得到每个温度下的振幅‑内耗曲线；结合不同的振幅‑内耗曲线对比分析确定金属试样的DBTT。经过与拉伸试验的对比，证明了本申请方案在测试金属试样是的有效性。采用本检测方法通过振幅‑内耗方式试验，可以不破坏金属试样，从而延长金属试样的使用寿命，甚至达到重复使用金属试样的目的。此发明用于金属检测领域。