简介： 本实用新型提供一种双光路X射线无损检测装置，包括放射源、前准直器、测量台、被测工件、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器、保护外壳以及控制系统，其中前准直器为无散射狭缝，后准直器为高分辨率的多平行束准直器。测量时，通过控制系统控制测量台进行圆周方向步进转动和竖直方向的移动，放射源、前准直器、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器的中心延长线均指向被测工件上的检测部位；所述后准直器设于康普顿探测器和线阵探测器前端以排除杂散射线。本实用新型使用两条光路，不但可以进行工件整体分析，还可以进行工件表面分析，分辨率高，可进行不同倍数的放大扫描，使用方便。