简介： 本发明公开了一种复合绝缘子缺陷无损检测方法。该方法步骤如下：A)控制扫频微波信号源发出入射信号，被物理探头发射至待测复合绝缘子内，并产生反射信号和透射信号；接收探头收集该三个信号并传送至分析仪进行处理；B)分析仪根据该三个信号的幅值和相位，进行联合计算得到散射参数S；C)如果已经完成一次完整的扫频检测则进入D)，否则调整扫频微波信号源的入射信号频率，并返回A)；D)完成一次完整的扫频检测后，得到一列散射参数S，绘制频率‑散射参数S曲线；E)根据曲线的变化情况，对待测复合绝缘子的缺陷进行判定和估计。本发明能够根据复合绝缘子散射参数的变化情况，对其状态及缺陷进行精确高效的诊断。