简介： 本发明公开了一种超声无损检测缺陷位置回溯方法，其包括以下步骤：对工件进行超声波扫描，并对扫描轨迹路径进行位置编码，得到扫描信号数据和编码位置数据；根据扫描信号数据和编码位置数据生成图像；在图像上找出缺陷位置并选取，获取所选图像区域中心对应的编码位置；根据所选图像区域中心对应的编码位置，回溯至工件实际对应的缺陷位置处。本发明可以在无损检测的过程中先对工件进行整体扫描，整体扫描虽然耗时长，但是全程可以无专业人员参与，而当扫描完成后，再找出缺陷位置，然后根据缺陷位置对应的编码位置，在扫描后也可来到工件的缺陷位置点上，再进行标识、修复或者复检等操作，从而有利于提高检测效率和降低成本。