简介： 本发明涉及一种多孔材料内部缺陷的无损检测方法，其解决了现有检测方法具有不可恢复的破坏性、耗时长且检测成本高等技术问题，包括如下步骤：制样、扫描、数据重建和处理、数据分析、三维模型重构，本发明可用于多孔材料内部缺陷的无损检测领域。