简介： 本发明公开了一种基于高光谱成像的苹果表面损伤快速无损检测方法，具体涉及水果品质无损检测技术领域。该方法是首先利用高光谱成像光谱仪采集损伤苹果的光谱图像，然后对光谱图像进行校正，再利用ENVI获取图像上完好与损伤区域的平均光谱曲线，分析光谱特性，再利用多元散射校正法对光谱数据进行预处理，其次，利用二次连续投影算法分析光谱数据，筛选特征波段，并对特征波段图像进行掩膜处理，去除背景干扰，再进行主成分分析确定完好与损伤区域差异明显的有效检测图像，最后采用固定阈值法分割出损伤区域，分割图像中依然存在因光照影响而误分的小面积区域，再利用图像的膨胀、腐蚀和删除小面积区域操作来实现损伤区域的精确分割。