简介： 本实用新型为一种对各种材料和器件表面进行无损缺陷检测的装置,特别是采用涡流法进行检测的磁光涡流成像无损检测装置,由架体纵向固定的半导体激光光源、偏振分光器、磁感应器及磁感应器下端固定的法拉第旋转元件和架体横向固定的偏振分光器、偏振片、凸透镜、成像显示器构成,其中,偏振分光器在纵、横架体的交叉点上,偏振分光器沿45°角镀有下层单向反光膜。本实用新型与现有涡流检测相比优点是:检测准确度高,是现有涡流检测效率的5-50倍;检测时无需对被测件表面油漆等清除;检测结果图象化,直观易懂,可通过录象保存。