简介： 本实用新型公开了一种半导体无损检测设备，包括工作台，所述工作台的底部固定安装有支撑座，所述工作台的顶部设置有固定机构，所述工作台的顶部开设有滑道，所述滑道上滑动安装有滑块，所述滑块的顶部固定安装有弧形套筒，所述弧形套筒的内部固定安装有弧形滑杆。该一种半导体无损检测设备，本实用通过工作台、支撑座、滑块、弧形滑杆、弧形套筒、活动块、检测头、固定机构、圆形齿条、滑道、弧形槽、弧形齿条、第一电机、第一齿轮、第二齿轮和第二电机的配合使用，可使检测头在任意角度上，达到一个三百六十度的调整效果，方便了检测头从各个角度检测半导体的封装情况。