简介： 本发明涉及一种无损检测梨的硬度方法，通过可见-近红外波段的高光谱成像系统测得多个不同种类的梨的高光谱图像，再通过黑白版校正，将高光谱图像中每一点的光谱响应强度转换成统一的0-100%的反射率图像，再通过Labview软件对图像的亮度进行提取和着色，将不同的亮度区域区分开，然后在同一颜色区域选取10个不同的点求平均代表整个梨的反射率，结合梨的反射率曲线提取每一波段的反射率信息通过PCA提取特征波段，通过国家标准方法测得的梨的硬度的实际值，再用PLS算法建立回归模型，得到各种类梨的回归方程，根据回归方程，便可通过测量所测梨的光谱图，计算出所测梨的硬度。可以广泛应用于梨的质量检测，检测过程，方便、快捷、无损、准确。