简介： 本实用新型公开一种B型套袖相控阵无损检测校准用试块，包括：自上而下依次连接的第一阶梯、第二阶梯以及第三阶梯，第一阶梯与第一顶面相邻的侧面设有第一列缺陷组，第二阶梯的顶面设有第二列缺陷组；第一列缺陷组，包括多个第一缺陷，多个第一缺陷间隔设置且沿第一斜向预设角排列；第二列缺陷组，包括多个第二缺陷，多个第二缺陷间隔设置且沿第二斜向预设角排列；其中，第一列缺陷组与第二列缺陷组错开排列。B型套袖相控阵无损检测校准用试块采用均倾斜设置的第一列缺陷组和第二列缺陷组，不仅可模拟B型套袖焊接接头的各种实际缺陷，同时也避免各个缺陷之间干扰，从而可极大提高超声波相控阵检测的精确度和准确性。