简介： 本发明公开了一种利用光声干涉成像进行无损检测的方法,所用器件包括泵浦激光器1、透镜2、检测激光器4、分光镜5、第一全反镜6、第一光束整形器7、白屏8、第二光束整形器9和第二全反镜10。利用该方法成像不用扫描,所成像既能反映材料表面的缺陷和均匀性,又能反映材料表面的光致声波,是材料表面无损检测和光致声波研究的一种新技术。