简介： 本发明提供一种基于荧光材料的无损检测方法,所述方法包括以下步骤:1)在待测产品表面覆盖荧光剂层；2)非平行激发光照射覆盖荧光剂层的所述待测产品表面；3)采集激发的荧光信号换算处理为待测产品表面的形态信息，本发明的无损检测方法可通过在待测产品表面覆盖荧光剂层通过非平行激发光激发获得对应的荧光信号从而获得被测产品的表面形态信息。