简介： 微小区域残余应力的无损检测方法，涉及一种测 量方法。现有残余应力测量方法存在耗时长、需要应用高角度 衍射峰的缺点。本发明方法为，利用 XRD2设备对待测残余应力的样 品测量后获得XRD2面探图谱， 然后对所得图谱进行处理，得到相应一组(hkl)衍射峰的衍射角 (2θ)随着德拜环张角(x)变化的数据 {xl，2θ l}，最后用线性函数拟合数据得 到相应的直线，由拟合得到直线的斜率与残余应力之间的关 系，即可计算出所测量样品该微小区域的残余应力。本发明方 法不仅可以实现材料微小区域残余应力的测量，而且可以快速 地得到满足精度要求的结果，另外，利用设备可调节X射线有 效穿透深度的特点，可获得残余应力沿表面法线方向的分布， 利于推广应用。