简介： 本发明涉及可能有裂纹的表面状态的无损检测方法,该方法基于对涂在表面上和裂纹中的染料在入射激励光束的作用下发出的光波的观测,所述入射激励光束的波长适于所述染料。本发明的特征在于,利用染料随厚度不同而发出的直线偏振光波相对入射偏振光波的旋转,来从观察结果中消掉表面残留染料导致的光斑。在附图中,标号(1)是一个激光器,标号(2)是一个观察摄像机,标号(3)是一个偏振光检偏器。本发明应用于染料渗透探测和磁粉探测。