简介： 本实用新型公开了一种超声波无损检测减少盲区大晶片斜探头，涉及超声波无损检测技术领域。本实用新型有一探头主体，在探头主体的底部设置一层保护膜；保护膜的底端边缘与其上端边缘之间构成三角形检测区，底端边缘打磨长度为保护膜厚度的1.8-2.1倍。优点：本实用新型主要通过减少探头前沿长度的方法，达到超声波无损检测时减少一次波盲区的目的，这样探头可以更贴近工件被检测区域。