简介： 本发明涉及一种六硝基六氮杂异伍兹烷晶型的无损检测方法及系统，先获取待测样品的太赫兹光谱，并对太赫兹光谱进行处理，绘制待测样品的吸收光谱图，最终对比待测样品的吸收光谱图与标准样品的吸收光谱图，确定待测样品的晶型。本发明将太赫兹光谱技术应用于炸药晶型检测领域，以实现典型单质炸药CL‑20样品晶型的无损检测。