简介： 本文公开了一种用于ZnO压敏电阻性能评价的无损检测方法,ZnO压敏电阻的性能通常是通过对其小电流特性、非线性系数、电位梯度的测试来评价。本发明是通过使用介电谱对ZnO压敏电阻的介电性能进行测量的方法,从介电损耗以及其微观结构缺陷活化能的观点来评价ZnO压敏电阻性能的好坏。本发明是一种无损伤的测量,不仅可以用于评价ZnO压敏电阻性能的优劣,还可以对其配方和制作过程的优化有一定指导意义。