简介： 本发明涉及一种铜铟镓硒薄膜太阳电池电学性能无损检测方法，解决了现有技术中太阳电池电学性能不能无损检测的问题。该方法包括：建立待测太阳电池的等效电路模型；根据设定的待测太阳电池直流偏压范围及步长，在每个直流偏压下，变化待测太阳电池两端交流电压的角频率，利用所述等效电路模型，获取所述太阳电池总电容随所述角频率变化的测试曲线，得到不同直流偏压下的特征频率；根据所述不同直流偏压下的特征频率数据，线性拟合得到直线斜率；根据所述直线斜率和太阳电池参数，获取所述太阳电池的电阻率及迁移率，根据所述电阻率和迁移率得到所述太阳电池的性能状态，实现了太阳电池电学性能的无损检测。