简介： 本发明属于无损检测技术领域,具体为一种磁致伸缩导波无损检测方法。本发明通过确定的数据长度和数据起始点,分别在无缺陷标样信号和实际检测信号中提取一组信号作为基准信号和检测信号。方法一将检测信号与基准信号进行差分得到一组信号,通过判断信号是否畸变确定缺陷,根据缺陷处信号的峰峰值与构件截面积损失的线性关系,利用信号的峰峰值确定被测构件截面积的损失量。方法二将检测信号的平方与基准信号的平方进行差分得到一组信号,通过判断信号是否畸变确定缺陷。由于采用上述的信号处理方法,将信号中原来不可分辨的小缺陷信号处理成可轻易分辨出缺陷的信号,从而实现了原本无法检测的小缺陷检测,提高了检测的精度。