简介： 本发明公开了一种涂层-基体界面激光预处理质量的无损检测方法,其具体步骤为:用激光束对基体表面进行微熔处理,建立指定激光工艺条件下的基体表面微熔状态的标准图谱以及基体表面微熔区宽度与激光硬化区深度之关系,不同工件激光处理效果及其一致性通过与标准图谱的实时对比加以控制,基体最大激光硬化深度则通过测定表面微熔区宽度并根据其与激光硬化区深度的关系予以确定。本发明涂层基体界面激光预处理质量无损检测方法,可以通过对表面激光预处理状态的控制和测量及其与标准图谱的对比,直接评价基体激光预处理效果和质量,无需破坏工件对激光处理区域进行解剖和制作金相试样。