简介:
本发明公开一种物质成分含量的近红外光谱无损检测方法及装置,利用其装置,通过采用光谱仪采集校正集样本、对光谱进行预处理、通过样本优选选择最优的校正样本集和利用最优的校正样本集建立非线性校正模型等步骤,然后利用光谱仪采集未知成分含量的光谱样本,经与校正集样本相同的光谱预处理,通过已建非线性校正模型检测该未知样本的成分含量。采用本发明提供的方法和装置,能够有效解决现有物质成分含量的近红外无损检测方法中校正模型复杂、训练速度慢、不易于硬件实现的问题,并能显著提高物质成分含量无损检测结果的精度及稳定性。
本发明公开一种物质成分含量的近红外光谱无损检测方法及装置,利用其装置,通过采用光谱仪采集校正集样本、对光谱进行预处理、通过样本优选选择最优的校正样本集和利用最优的校正样本集建立非线性校正模型等步骤,然后利用光谱仪采集未知成分含量的光谱样本,经与校正集样本相同的光谱预处理,通过已建非线性校正模型检测该未知样本的成分含量。采用本发明提供的方法和装置,能够有效解决现有物质成分含量的近红外无损检测方法中校正模型复杂、训练速度慢、不易于硬件实现的问题,并能显著提高物质成分含量无损检测结果的精度及稳定性。