简介： 一种SERS拉曼芯片单色透过光强定标无损质检方法与设备，所述方法是，采用单色光源透过光强(HSP)间接表征定标样品拉曼峰高(HRS)的“HSP～HRS”定标无损质检测技术：一，选一组不同灵敏度定标拉曼芯片，在紫外可见光源的消光透过光谱曲线中，找出消光光谱‑SPR主峰峰位、‑SPR次峰峰位、‑与SPR效应敏感的其它适用单色光的峰位；或通过数值模拟找出上述三类峰位；二，在所述三类峰位中优选其一，相继检测所述定标拉曼芯片组的单色光源的HSP和HRS；三，创建“HSP～HRS”定标曲线；四，在所述单色透过光强HSP～HRS定标设备上，实施所述拉曼芯片无损检测，解决SERS拉曼芯片灵敏度质量无损检测问题。