简介： 本发明提供了一种采用太赫兹无损检测技术表征纳米结构热障涂层微结构的方法，包括：调节工艺制备不同微结构涂层，采用金相分析确定涂层微结构特征；太赫兹无损检测，获陶瓷涂层实折射率；构建实折射率和涂层微结构特征的线性关系；基于线性关系，构建实折射率与涂层微结构特征的范围比对关系，利用该范围比对关系可以通过太赫兹无损检测定性或半定量分析不同工艺制备涂层的涂层微结构特征。本发明具备无损、高效、操作便捷和检测精度高的特点。同时，本发明方法的数据结果呈现了数据参数规律导向性明确，数据表征方法简便、高效和科学性的特点，可为控制涂层质量或为工艺优化提供快速有效的无损检测提供有力支撑。