简介： 本发明涉及一种克服XRF粉末压片法测定合金元素粒度效应的方法，制备粒度组成相似的标准样品及待分析样品,标准样品及待分析样品分别粗破、细破、研磨、筛分分级、配制后压制样片。采用x射线荧光光谱仪粉末法进行分析。本发明通过重新分配样品中不同粒度的组成，使标准样品及待分析样品的粒度组成达到高度相似，消除由于粒度效应带来的分析线强度的波动给检测结果带来的误差，解决了合金x射线荧光光谱分析粉末压片法测定合金元素的粒度效应和矿物效应。