简介： 本发明公开一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法，包括以下步骤：在待测试块进行直线B扫，获取包括n个A扫信号的B扫信号；将无缺陷参考信号和B扫信号归一化处理，获得缺陷回波信号；从缺陷回波信号中分别提取每个A扫信号中的缺陷纵波回波时刻；以第一个扫查位置为原点，扫查方向为x正向，待测试块内部垂直于待测试块表面方向为y正向，建立坐标系；根据扫查点坐标、缺陷纵波回波时刻以及纵波波速，得到缺陷位置与尺寸。本发明的结果可以直接输出缺陷的位置和尺寸，在坐标系中绘制出缺陷形貌，输出结果直观。本发明在直线B扫的数据基础之上，即可获取缺陷尺寸，相较通过C扫检测缺陷的方式，检测效率有明显的提升。