简介： 本发明公开一种用X射线荧光光谱法测铁精矿中全铁含量的方法，包括以下步骤：抽取铁精矿样品，将铁精矿样品研磨后过200目筛，收集粒径为≤74μm的粉末，在100‑110℃下干燥0.5‑1.5小时，然后在25‑35T压力下保持15‑25s，制成待测量样片，然后置于X‑射线荧光光谱仪中进行检测，检测条件为：X光管电压20‑30kv、管电流40‑60mA。本发明具有先进性、适用性、可推广性，分析时间短、效率高、准确度高、重复性好、无污染。