简介： 本发明公开一种新能源汽车集成电路芯片测试系统，包括测试环境参数调控模块、电流检测模块、芯片损耗分析模块、芯片缺陷测试获取模块、测试管理平台、振动检测模块、红外集成管理存储器、芯片测试显示终端，本发明通过测试管理平台对各测试箱体环境下的功率损耗系数进行预估分析评估，统计出集成电路芯片的动态损坏变动系数，以准确地分析随着测试箱体内的温度和湿度变化，对集成电路芯片性能的影响程度，并分析出各元器件在测试过程中的元器件性能突变系数，能够准确定位发生性能突变的元器件的位置，能够准确获取各元器件是否功能异常，提高了芯片测试的准确性，且能够准确获取异常元器件的位置，便于对异常元器件进行更换或修复。