简介： 本实用新型涉及一种利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置，包括电源模块、信号处理模块、显示模块和探头，其中，所述探头设有探头接口端、接口卡槽、密封护套、磁性组件、芯片组件和探头底座，所述磁性组件和芯片组件设置在所述密封护套内，所述探头底座通过螺纹与所述密封护套连接；该装置还包括与所述探头组合使用的磁性元件，测量目标置于所述磁性元件与所述探头底座之间。实施本实用新型的测厚装置，具有以下有益效果：可用于测定如复合材料、吹塑部件、薄片、玻璃基板等非电磁材料的厚度，也可用于测量磁性材料表面非磁性覆盖层的厚度。