简介： 本实用新型公开了一种PCB测试治具，该测试治具包括Peek材质的基座，基座上设有下沉槽，下沉槽内装配有Torlon复合材料的基体，基体和基座的下沉槽上设有相互配合用于容置微针的通孔，基体在装入下沉槽后，其上表面低于基座的上表面，基体的上表面和下沉槽的上端槽壁构成第一定位槽，基体的下表面设有凹陷的第二定位槽，基体侧壁和下沉槽槽壁之间设有锁死结构，该锁死结构包括设在基体侧壁上的母卡口和设在下沉槽槽壁上的公卡头。本实用新型通过在基体和基座上分别打孔，使得在单一部件上的打孔间距缩短了，可避免因打孔密度过大时长距离的打孔造成孔间破裂贯通，提高了微针的密度。