简介： 本发明公开了一种基于偏微分方程的纳米颗粒尺寸测量方法，包括：1)输入一幅纳米颗粒图像I，将平均曲率流模型和PM模型的滤波结果进行像素级相乘得到滤波后的图像u；2)采用局部区域拟合模型(RSF)对图像u进行分割；3)像素标定获得图像中每个像素对应的实际尺寸；4)利用目标的凸性Cconv选出不粘连的颗粒；5)通过对颗粒边界进行最小二乘圆拟合获得球状纳米颗粒直径，同时得到内切圆直径rc，外切圆直径ri，以及纳米颗粒的球状性本发明可以广泛地用于催化科学、医学药物、新材料、电力工业和复合材料等需要纳米颗粒尺寸测量技术的高科技领域。