简介： 本发明提供一种复合材料层的参数拟合计算方法及系统，方法包括：a、获取待测样品的测量光谱，待测样品包括复合材料层；b、根据复合材料层的参数，基于有效介质EMA通用模型拟合计算待测样品的拟合光谱；c、若拟合光谱达到所述测量光谱的精度要求，则获取复合材料层的参数；若拟合光谱未达到测量光谱的精度要求，则调整复合材料层的参数，重复执行b和c进行迭代，直到拟合光谱达到所述测量光谱的精度要求，获取复合材料层的参数。本发明构建有效介质EMA通用模型，可以通过调整复合材料层的参数，来迭代计算待测样品的拟合光谱，调整参数时不因为某一种或几种具体模型的限制，可适用于包含任何复合材料层的待测样品参数的获取。