简介： 本发明所述的含轻元素低品位矿物的定量分析方法，包括以下S：S1.测试样品制备：将待测样品破碎制成光片并研磨抛光得到测试样品；S2.目的矿物确定：采用自动工艺矿物学分析系统对测试样品进行矿物自动定量分析，确定目的矿物并标记其单体颗粒的位置；S3.目的矿物提取：取出标记位置的目的矿物单体颗粒；S4.目的矿物分析：进行X射线粉晶衍射测定并查找匹配物相。本发明突破自动工艺矿物学分析系统以及X射线粉晶衍射联合应用的技术屏障，将测试样品中的破碎矿物标记并取出，利用扫描电镜的定位、以及X射线粉晶衍射的全面数据匹配能力，可准确鉴定出目前难以检测的含轻元素低品位矿物并进行定量检测分析，克服了近30年来的矿物检测短板。