工作原理：

HYL-2076采用双光源（氦氖激光器+半导体激光器）交叉光路设计，结合前向、侧向、后向120个独立探测器阵列，同步采集颗粒在多角度的散射光信号。通过米氏散射理论建立光强分布与粒径的数学模型，并引入动态光散射补偿算法，消除样品浓度、折射率及颗粒形态（如非球形、团聚体）对测量结果的影响，最终通过专利反演算法（支持多种分布模型）精准还原颗粒的粒径分布曲线（D10/D50/D90等参数），同时可扩展输出球形度、长径比等形态特征数据。

应用范围：

适用于纳米材料行业对金属氧化物、量子点、碳纳米管等超细颗粒的粒径控制，支撑材料性能优化；电池材料领域对正负极活性物质（如磷酸铁锂、石墨）、隔膜涂层的粒度分析，提升电池能量密度与循环寿命；制药行业对原料药、辅料及微球制剂的粒径表征，确保药物溶解性、生物利用度与稳定性；化工领域对催化剂、颜料、涂料等产品的粒径分布优化，改善反应效率与产品色度；以及食品、化妆品中对粉体产品的粒度检测，满足口感、肤感与保质期需求。其全量程覆盖能力可替代多台传统仪器，降低用户成本。

技术参数：

测量范围：0.01μm-2000μm（湿法）；0.1μm-2000μm（干法）；重复性误差：≤0.5%（D50）；准确性误差：≤2%（标准样品）；测量时间：≤30秒/次；分散方式：湿法（超声/循环/搅拌）或干法（高压气源）；光源：氦氖激光器（632.8nm）+半导体激光器（780nm）；探测器数量：120个；接口：USB/RS485/以太网；操作软件：支持中英文双语，可输出30余种粒度参数及自定义报告。

产品特点：

双光源交叉光路与120探测器阵列，实现全量程高分辨率测量，尤其擅长超细颗粒（<1μm）与大颗粒（>100μm）的同步分析；

动态光散射补偿算法与专利反演技术，适应复杂样品（如宽分布、多峰、非球形颗粒）的精准检测，数据可靠性达国际标准；

全自动操作流程（自动对中、自动遮光比调节、自动清洗），支持一键测量与远程控制，降低人工干预，提升检测效率；

模块化设计，兼容湿法/干法分散系统，可快速切换测量模式，满足粉末、乳液、悬浮液等多形态样品的检测需求；

开放式样品池与防腐蚀材料结构，便于清洁维护，适应强酸、强碱等恶劣样品环境，延长设备使用寿命。