工作原理

WG-HL4000DS采用无限远校正光学系统，搭配800万像素4K CMOS传感器，分辨率达3840×2160，帧率30fps。光源经科勒照明系统均匀照亮样品，反射光通过物镜汇聚后，由分光镜将光路分为观测与测量两路：观测光路直接传输至目镜或显示屏，实现实时观察；测量光路则通过高精度编码器驱动的电动载物台，结合传感器采集的图像数据，通过亚像素级边缘检测算法计算尺寸参数。例如，检测芯片引脚宽度时，设备可在0.1秒内完成图像采集与测量，重复性误差＜0.1μm。

应用范围

该设备覆盖多行业精密检测需求：在半导体领域，可分析晶圆表面缺陷、键合线弧高；在精密机械行业，支持模具型腔尺寸测量、齿轮齿形误差检测；在材料科学中，还能观测金属疲劳裂纹扩展、复合材料层间剥离。其兼容明场、暗场、偏光等多种照明模式，适配金属、陶瓷、聚合物等材质，满足实验室研发与生产线质检双重场景。

技术参数

WG-HL4000DS配备5孔物镜转换器，支持5X、10X、20X、50X、100X物镜，总放大倍数50X-1000X；载物台行程150mm×100mm，X/Y轴分辨率0.01μm，Z轴调焦范围50mm；光源采用高亮度LED阵列，亮度可调范围1%-100%，寿命超50000小时；设备支持HDMI、USB 3.0、RS232等多接口通信，兼容LabVIEW、MATLAB等开发环境。

产品特点

4K超清成像：800万像素传感器结合低畸变物镜，确保图像边缘锐度与色彩还原度，支持实时拼接大视野图像；

智能测量：内置GB/T 1958、ISO 1101等标准分析模块，支持一键生成形位公差报告与数据导出；

多模态照明：支持明场、暗场、偏光、荧光等多种照明方式，适配不同材质与表面结构的检测需求；

工业级设计：全金属机身与防震脚垫确保稳定性，适应-10℃至50℃环境温度，MTBF超12000小时。