数显薄膜测厚仪0.5-1.0N
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数显薄膜测厚仪0.5-1.0N
来源:上海奕纵精密仪器有限公司
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简介: YZHD-12S型高精度数显台式薄膜测厚仪,采用进口日本三丰数显千分表,测量精准,稳定。它是一款是采用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器(但不适用于压花的薄膜和薄片),它参照国家标准GB/T6672—2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定——机械测量法》,该国家标准修改采用国际标准ISO4593《塑料薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》,精度指标验收按照JJF1488-2014。
产品详细

YZHD-12S数显薄膜测厚仪0.5-1.0N

YZHD-12S数显薄膜测厚仪0.5-1.0N


产品特点

主要特点:

1、采用进口日本三丰高精度数显千分表,测量精度高,稳定性和重复性好;

2、可以测量0-12.5mm厚度范围的薄膜 ,采用钢制台面,平面度光滑平整

3、上下测头均为6mm直径的平面测头时,测力0.5-1.0N;

4、测头经精密研磨,不容易生锈,机架稳定不易变形,符合国标GB/T6672-2001和ISO4593;

应用范围

主要适用范围:

1、适用塑料包装行业,对塑料薄膜,薄片的厚度进行准确测量;

2、适用于测量隔膜、纸张、箔,箔、硅片等各种材料的厚度;

产品描述

YZHD-12S型高精度数显台式薄膜测厚仪,采用进口日本三丰数显千分表,测量精准,稳定。它是一款是采用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器(但不适用于压花的薄膜和薄片),它参照国家标准GB/T6672—2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定——机械测量法》,该国家标准修改采用国际标准ISO4593《塑料薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》,精度指标验收按照JJF1488-2014。

技术参数

主要性能参数

1. 测量范围 : 0-12.5 mm

2. 数显分辨率: 0.001 mm

3. 测量精度(最大允许误差):±(3~4)μm

3. 测头端部的力:上测量面为6mm平面,测头对试样施加的力为0.5N-1.0N 

4. 上下两测头平行度误差:≤5μm

5. 验收标准:符合JJF1488-2014 橡胶、塑料薄膜测厚仪校准规范

6. 参照标准:GB/T6672—2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》,ISO4593《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》。

7.测量方式:台式(非手持式)

8. 底座平台尺寸约:50mm

9. 重量约:1.5kg

配置清单

标配 : 底座1台,日本高精度数显千分表1只, 重锤1个,保修卡1张,合格证1份,使用说明书1份;
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标签:数显薄膜测厚仪,测厚仪
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